鎧裝貴金屬熱電偶測量端位置的確定方法
發(fā)布時(shí)間:2022-11-23
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摘要:
熱電偶測量端位置的準確定位對于熱電偶的校準和使用有著(zhù)重要影響,特別對于
鎧裝貴金屬熱電偶來(lái)說(shuō),由于無(wú)法通過(guò)肉眼準確識別保護管內部熱電偶測量端的位置,因此在熱電偶檢定和使用過(guò)程中一般將其外保護管頂部作為測量端所在位置。然而通過(guò)現場(chǎng)試驗發(fā)現,鎧裝貴金屬熱電偶測量端一般并不位于保護管頂部,提供了一種準確定位鎧裝貴金屬熱電偶測量端的方法。
0前言
鎧裝貴金屬熱電偶由于具有結構緊湊,堅固耐用,測溫范圍寬,測溫精度高,機械強度及耐壓性能好,能彎曲,能在高低溫、腐蝕性強等惡劣條件下安全使用等特性,被廣泛應用于冶金、石油、航天、航空等.溫度控制和測試領(lǐng)域。鎧裝貴金屬熱電偶通常和顯示儀表、變送器及電子調節器配套使用組成測溫或過(guò)程控制系統。
由于鎧裝貴金屬熱電偶偶絲位于保護管內部,通過(guò)肉眼無(wú)法準確辨識出電偶測量端位置,因而鎧裝貴金屬熱電偶在校準和使用過(guò)程中會(huì )引入一定的測量誤差。為了進(jìn)一步提高鎧裝貴金屬熱電偶校準及使用時(shí)的精度,提出了一種利用X光照相檢測技術(shù)對此類(lèi)電偶測量端進(jìn)行準確定位后進(jìn)行校準的方法。
1鎧裝貴金屬熱電偶結構
鎧裝貴金屬熱電偶是將熱電偶絲用無(wú)機物絕緣及金屬或陶磁套管封裝,壓實(shí)成堅實(shí)的組合體。常用鎧裝貴金屬熱電偶的結構型式見(jiàn)圖1。
由圖1可以看出,由于制造工藝流程不規范等原因,鎧裝熱電偶制作完成后,封裝在保護管內的測量端位置無(wú)法準確定位,這會(huì )對熱電偶的校準和使用造成兩方面的影響。
第一,根據JJF1262-2010《鎧裝熱電偶校準規范》要求,鎧裝熱電偶校準過(guò)程中應使鎧裝貴金屬熱電偶測量端和標準電偶測量端位于同-一個(gè)徑向截面上,如圖2所示。由于鎧裝熱電偶測量端的具體位置無(wú)法知曉,通常校準時(shí)默認測量端在外保護管的底部,將鎧裝貴金屬熱電偶外護管底部和標準電偶外保護管底部位于同一個(gè)徑向截面上進(jìn)行捆扎后校準,由于被校鎧裝熱電偶測量端位置的不確定性,往往導致校準時(shí)被校鎧裝熱電偶和標準熱電偶的測量端不在同一個(gè)徑向截面上,如圖3所示。這必然會(huì )增加校準時(shí)爐溫場(chǎng)不均勻引人的誤差。
第二,在利用鎧裝貴金屬熱電偶進(jìn)行熱電偶檢定爐爐溫均勻性測試過(guò)程中,要求把熱電偶測量端準確布放在規定的測溫點(diǎn)位置,由于不能對鎧裝貴金屬熱電偶測量端準確定位,測量過(guò)程中一般默認電偶外保護管底部就是測量端,那么在爐溫均勻性檢測過(guò)程中,會(huì )對熱電偶檢定爐有效工作區尺寸測量結果帶來(lái)誤差,造成不必要的重復測試從而浪費資源。
2X光照相檢測技術(shù)
為解決鎧裝貴金屬熱電偶在校準和使用過(guò)程中存在的上述問(wèn)題,通過(guò)X光照相檢測技術(shù)對其測量端進(jìn)行準確定位。X射線(xiàn)是一種波長(cháng)很短、頻率很高的電磁輻射,其檢測原理是利用X射線(xiàn)所具有的較強的穿透能力。穿透被測物的射線(xiàn)帶有反映被測物內部結構的信息,通過(guò)射線(xiàn)強度的變化來(lái)檢測與評判材料或工件內部各種宏觀(guān)或微觀(guān)缺陷的性質(zhì)、大小和分布情況。
對熱電偶測量端位置檢測時(shí)選用的是450型x光檢測儀。首先將鎧裝熱電偶外套管進(jìn)行清理,避免表面雜質(zhì)對X光照相檢測儀成相質(zhì)量造成影響,同時(shí)接通450型X光檢測儀電源,待數顯電壓表示值穩定后將被測熱電偶放置在X射線(xiàn)管與像增強器之間,調整數顯面板上的電流和電壓調節旋鈕,直到可以看到保護管內部結構位置,此時(shí)即可判定出熱電偶測量端的位置。
通過(guò)X光照相發(fā)現,每支鎧裝貴金屬熱電偶的測量端同其外護管底部之間的距離幾乎都是不一致的,如圖4所示,選取的拍攝試樣熱電偶中二者最大距離有30mm,而貴金屬熱電偶檢定爐有效均勻溫場(chǎng)的長(cháng)度只有20mm,.上述距離差異不僅使被校鎧裝熱電偶和標準熱電偶測量端無(wú)法位于同一徑向截面上,而且有可能使熱電偶的測量端在校準過(guò)程中位于檢定爐的有效均勻溫場(chǎng)之外。
利用X光照相檢測技術(shù)對鎧裝貴金屬熱電偶測量端準確定位后,可以在熱電偶外保護管上標示出每支熱電偶測量端距外保護管底部的距離,作為校準和使用過(guò)程中確定測量端位置的依據。在此基礎上,校準時(shí)還要對鎧裝貴金屬熱電偶的捆扎方式稍作改變,將被校鎧裝貴金屬熱電偶標記的測量端位置與標準熱電偶的測量端位置對齊進(jìn)行捆扎,這樣可確保被檢和標準的測量端位于同一徑向截面上。
3X光照相檢測技術(shù)使用前后校準結果的比較
選取兩支S型全新鎧裝貴金屬熱電偶,分別使用之前的方法(未進(jìn)行被校鎧裝熱電偶測量端位置定位)和改進(jìn)后的方法(使用X光照相檢測技術(shù)進(jìn)行被校鎧裝熱電偶測量端位置定位)在銅點(diǎn)進(jìn)行校準,將前后兩次方法在銅點(diǎn)的校準結果進(jìn)行比對,結果如表1、表2、表3所示。
從表1~表3可以看出,兩種不同方式的校準結果相差至少1℃。
另外,通過(guò)采用X光照相檢測技術(shù)對鎧裝貴金屬熱電偶測量端進(jìn)行準確定位后,在爐溫均勻性測試過(guò)程中也可以更加準確地將鎧裝貴金屬熱電偶測量端布放在規定的測溫位置,避免了有效加熱區擴大造成的重復測試。
通過(guò)上述改進(jìn)前后數據對比得出結論:準確測量鎧裝貴金屬熱電偶的實(shí)際測量端位置對于熱電偶校準結果的影響很大,故校準前對鎧裝貴金屬熱電偶測量端位置的確定是必要的。
4結束語(yǔ)
通過(guò)對鎧裝貴金屬熱電偶進(jìn)行X光片拍攝,獲得鎧裝貴金屬熱電偶測量端在鎧裝外保護管內具體位置的校準方法,從根本上解決了鎧裝貴金屬熱電偶校準時(shí)由于測量端位置不準確對校準結果帶來(lái)的影響,避免了因校準結果的不確定性造成的對校準結果誤判的風(fēng)險。